全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

產(chǎn)品介紹：全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部真實結(jié)構(gòu)信息，在使用徠卡EM TIC3X之前，這類工作從未變得如此之簡單。
產(chǎn)品型號：
更新時間：2025-09-30
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品品牌：其他品牌
產(chǎn)品廠地：廣州市
訪問次數(shù)：5381
在線留言 400-875-1717轉(zhuǎn)809

產(chǎn)品介紹

品牌	其他品牌	價格區(qū)間	面議
儀器種類	金相切割機(jī)	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)

全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

幾乎任何材質(zhì)樣品都可獲得高質(zhì)量截面，在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部最真實結(jié)構(gòu)信息，在使用徠卡EM TIC3X之前，這類工作從未變得如此之簡單。

徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復(fù)合、帶有孔縫結(jié)構(gòu)、熱敏感性、脆性及非均質(zhì)樣品，獲得樣品截面，從而進(jìn)行掃描電子顯微鏡（SEM），微區(qū)分析（EDS，WDS，Auger，EBSD）及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM，SPM)檢測。

三離子束（分別獨立控制），冷凍樣品臺及多樣品臺，確保離子束對樣品處理高效，切割區(qū)域?qū)捛疑睿瑥亩@得高質(zhì)量截面切割結(jié)果。

全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

為您帶來的優(yōu)勢


性能 *的三離子束系統(tǒng)，可獲得佳的截面處理質(zhì)量，并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域，大大降低工作時間。并可實現(xiàn)在一次處理過程中最多處理3個樣品。因此對有高通量需求的實驗室，徠卡EM TIC 3X是佳解決方案。	樣品托多種多樣的樣品托，適合于各類尺寸樣品。

可裝配系統(tǒng) 根據(jù)您的樣品制備需要，可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計樣品臺－標(biāo)準(zhǔn)樣品臺，多樣品臺或冷凍樣品臺。	樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見除了剖面切割，使用同一樣品托還可對樣品進(jìn)行清潔及增強(qiáng)襯度的功能。

冷凍樣品臺針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等，可以使用冷凍樣品臺對樣品進(jìn)行低溫下處理，獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達(dá)到-150° C。

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：Leica 全自動臨界點干燥儀 EM CPD300


性能 *的三離子束系統(tǒng)，可獲得佳的截面處理質(zhì)量，并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域，大大降低工作時間。并可實現(xiàn)在一次處理過程中最多處理3個樣品。因此對有高通量需求的實驗室，徠卡EM TIC 3X是佳解決方案。	樣品托多種多樣的樣品托，適合于各類尺寸樣品。

可裝配系統(tǒng) 根據(jù)您的樣品制備需要，可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計樣品臺－標(biāo)準(zhǔn)樣品臺，多樣品臺或冷凍樣品臺。	樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見除了剖面切割，使用同一樣品托還可對樣品進(jìn)行清潔及增強(qiáng)襯度的功能。

冷凍樣品臺針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等，可以使用冷凍樣品臺對樣品進(jìn)行低溫下處理，獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達(dá)到-150° C。

全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

為您帶來的優(yōu)勢

性能

樣品托

可裝配系統(tǒng)

樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見

冷凍樣品臺

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗證碼：